Rasterelektronenmikroskop

Rasterelektronenmikroskop (ZEISS DSM 950)

ZEISS DSM 950

Technische Daten:

Vergrößerung: >10000x
Auflösung: ≈10 nm
Probengröße: dmax ≈ 250 mm
Digitale Bildverarbeitung mit Mess- und Auswerteprogrammen
Ausgabeformate: .jpg, .tif

 

Detektoren:

Sekundärelektronendetektor (SE)
Rückstreuelektronendetektor (BSE), zur Materialkontrastdarstellung
Energiedispersive Röntgenstrahlanalyse (EDX)

Quantitativer und qualitativer Nachweis von Elementen bis Bor,
Punkt- und Linienanalyse sowie Verteilungsbilder

Probenpräparation: Bedampfen und Sputtern (Kohle, Gold)