Stereomikroskop

Stereomikroskop (LEICA MZ6)

LEICA MZ6

Technische Daten:

Zoom-Vergrößerungswechsler: 6:1
Objektvive: 0,8x und 2,0x
Vergrößerungsbereich: 5x bis 80x

Beleuchtungen:
Schwanenhals
Ringlicht
Koaxial-Auflicht:

Diese Beleuchtung ermöglicht die Beobachtung flacher, hochreflektierender Objekte wie Wafer, integrierte Schaltungen und Metallschliffe.

Chromatischer Sensor und Atomkraftmikroskop

Atomkraftmikroskop (Universelles Messgerät MicroProf FRT)

Universelles Messgerät MicroProf FRT

Die Struktur von Oberflächen fester Körper wird in drei Dimensionen erfasst und kann dabei von optischer Auflösung (vergleichbar einer Lupe) bis in Bereiche weniger Nanometer dargestellt werden. Mittels einer Bildverarbeitung entsteht ein dreidimensionales Bild der Oberfläche, in dem Höhendifferenzen von 6nm nachgewiesen werden können. Die technisch üblichen Parameter zur Charakterisierung der Rauheit von Oberflächen (Ra, Rz u.a.) werden ebenfalls dargestellt.

Das Gerät setzt sich aus einer Photozelle, einem chromatischen Sensor sowie einem Atomkraftmikroskop zusammen. Das herausragende Kennzeichen ist, dass alle Sensoren den gleichen Probenbereich untersuchen. D.h. eine ausgewählte Stelle kann bis in atomare Größenordnungen untersucht werden.

Technische Daten:
Chromatischer Sensor FRT CWL:
Messbereich: 300 μm
Auflösung x,y: 2 μm
Auflösung z: 3 nm

Rasterkraftmikroskop FRT AFM:
Auflösung z: 2 nm

Systemmikroskop

Systemmikroskop (Olympus BX 40)

Olympus BX 40

Technische Daten:

max. Vergrößerung: 1000x
max. Auflösung: 0,27 μm
Fokussiergenauigkeit: ≈ 1 μm
Hell-/ Dunkelfeldkontrast
Beleuchtung: Köhler-Beleuchtung für Auflicht 5-fach Objektivrevolver

Rauheitsmessung

Rauheitsmessung (Mahr-Perthometer S2)

Mahr-Perthometer S2

Das Perthometer ist ein elektrisches Tastschnittgerät zur Bestimmung aller gebräuchlichen Rauheitskenngrößen nach DIN, der Kontur sowie der Topographie. Die Konturmessung beinhaltet die Ermittlung von Winkeln, Radien, Abständen und Koordinaten sowie den computergesteuerten Soll-Ist-Vergleich mit gemessenen oder rechnerischen Profilvorgaben.

Die graphische Ausgabe der Messdaten erfolgt über das Steuergerät oder auf PC.

Digital-Mikroskop

Digital-Mikroskop (KEYENCE VHX-500K)

KEYENCE VHX-500K

Technische Daten:

Objektive:
0 – 50
20 – 200
100 – 1000

VHX-500K (mit der Möglichkeit für Videoaufnahmen)

Mikrofotographische Bestimmung der scheinbaren Korngröße

Mikrofotographische Bestimmung der scheinbaren Korngröße
Stahl 1.4301
Mikrofotographische Bestimmung der scheinbaren Korngröße
DIN EN ISO 643

Digitalmikroskop (Keyence)

Klemmanschluss einer Spule

Klemmanschluss einer Spule
Klemmanschluss einer Spule
Verguss im Gehäuse (Thermoplast)
An der Fehlstelle hat sich beim Vergießen ein Hohlraum gebildet. Wärmestau und Aufschmelzen.
Anschleifen in mehreren Lagen über die gesamte Drahtdicke.

Digitalmikroskop (Keyence VHX-500K)

Leiterplatte

Leiterplatte
Leiterplatte
Zwischen zwei benachbarten Durchkontaktierungen hat sich beim Galvanisieren der Hülsen durch Diffusion eine metallische Brücke gebildet – Kurzschluss. Sicherheitsbauteil Lokomotive.

Rasterelektronenmikroskop (Jeol 6610, SE)

Kontaktwinkelmessung

Kontaktwinkelmessung (Dataphysics OCA)

Dataphysics OCA

(Bestimmung der Grenz- und Oberflächenspannung)

Das Gerät erlaubt es, den statischen und dynamischen Kontaktwinkel einer Flüssigkeit auf einer Festkörperoberfläche zu bestimmen. Aus diesen Daten wird die freie Grenzflächenenergie mittels unterschiedlicher Berechnungsmethoden ermittelt.

Technische Daten:

Feindosiereinrichtung
Bestimmung des Vorschreit- und Rückzugwinkels
Umfangreiche Software zur Berechnung der freien Grenzflächenenergie

POWTECH 2014 – Weltleitmesse für Verfahrenstechnik, Analytik und Handling von Pulver und Schüttgut

30. September – 2. Oktober 2014, Nürnberg