Rasterelektronenmikroskop

Rasterelektronenmikroskop (ZEISS DSM 950)

ZEISS DSM 950

Technische Daten:

Vergrößerung: >10000x
Auflösung: ≈10 nm
Probengröße: dmax ≈ 250 mm
Digitale Bildverarbeitung mit Mess- und Auswerteprogrammen
Ausgabeformate: .jpg, .tif

 

Detektoren:

Sekundärelektronendetektor (SE)
Rückstreuelektronendetektor (BSE), zur Materialkontrastdarstellung
Energiedispersive Röntgenstrahlanalyse (EDX)

Quantitativer und qualitativer Nachweis von Elementen bis Bor,
Punkt- und Linienanalyse sowie Verteilungsbilder

Probenpräparation: Bedampfen und Sputtern (Kohle, Gold)

Sicherung SMD

Sicherung SMD
Sicherung SMD
Durchbrennen bei Dauerbetrieb
Aufbau des Drahtes in mehreren Lagen. Die mechanische Belastung wird durch den Fe-Ni Kern aufgenommen, die elektrische Leitung erfolgt durch die Cu und Ag Auflage. Eine beschädigte oder zu dünne Ag Schicht führt lokal zum Überhitzen und Durchbrennen des Drahtes.

Rasterelektronenmikroskop (Zeiss DSM950, SE)